使用碳酸根去除装置(CRD)减小阴离子测定中碳酸根的干扰

戴安(中国)有限公司. 使用碳酸根去除装置(CRD)减小阴离子测定中碳酸根的干扰[J]. 环境化学, 2008, 27(1): 134-136.
引用本文: 戴安(中国)有限公司. 使用碳酸根去除装置(CRD)减小阴离子测定中碳酸根的干扰[J]. 环境化学, 2008, 27(1): 134-136.
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使用碳酸根去除装置(CRD)减小阴离子测定中碳酸根的干扰

  • 摘要: 由于大气中二氧化碳的溶解从而使得水或者水溶液中必然存在碳酸根.当使用离子色谱法而以氢氧化物和硼砂为淋洗液来分析样品时,样品中的碳酸根会与待测离子(如亚硝酸根、溴、硫酸根或高氯酸根)共淋洗从而干扰其定量.以氢氧化物和硼砂为淋洗液的离子色谱分析中,碳酸根的污染往往由淋洗液或样品引入.由于碳酸根可以作为淋洗液,流动相中不同含量的碳酸根使得配制出的淋洗液也有所不同,因而导致了保留时间的变化和峰面积重现性的变差.使用戴安带有CR-ATC的只加水离子色谱(RFIC)系统可以在很大程度上消除碳酸根污染.直到最近,样品即使未经过可能污染样品的处理步骤,其中的碳酸根也不能被完全消除.而现在,通过使用碳酸根去除装置(Carbonate Removal Device, CRD)就可以去除色谱图中的碳酸根峰, 且无损样品也无需增加样品前处理步骤.
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出版历程
  • 刊出日期:  2008-02-15
戴安(中国)有限公司. 使用碳酸根去除装置(CRD)减小阴离子测定中碳酸根的干扰[J]. 环境化学, 2008, 27(1): 134-136.
引用本文: 戴安(中国)有限公司. 使用碳酸根去除装置(CRD)减小阴离子测定中碳酸根的干扰[J]. 环境化学, 2008, 27(1): 134-136.
Citation:

使用碳酸根去除装置(CRD)减小阴离子测定中碳酸根的干扰

  • 1. 戴安(中国)有限公司

摘要: 由于大气中二氧化碳的溶解从而使得水或者水溶液中必然存在碳酸根.当使用离子色谱法而以氢氧化物和硼砂为淋洗液来分析样品时,样品中的碳酸根会与待测离子(如亚硝酸根、溴、硫酸根或高氯酸根)共淋洗从而干扰其定量.以氢氧化物和硼砂为淋洗液的离子色谱分析中,碳酸根的污染往往由淋洗液或样品引入.由于碳酸根可以作为淋洗液,流动相中不同含量的碳酸根使得配制出的淋洗液也有所不同,因而导致了保留时间的变化和峰面积重现性的变差.使用戴安带有CR-ATC的只加水离子色谱(RFIC)系统可以在很大程度上消除碳酸根污染.直到最近,样品即使未经过可能污染样品的处理步骤,其中的碳酸根也不能被完全消除.而现在,通过使用碳酸根去除装置(Carbonate Removal Device, CRD)就可以去除色谱图中的碳酸根峰, 且无损样品也无需增加样品前处理步骤.

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